パワー半導体 テスターファミリー
MT100: 静(DC)特性パラメータをウエハ/チップから複雑なモジュール迄、広範囲な電圧電流領域でテスト機能をカバーします。
MT200:動(AC)特性パラメータテスト機能を追加し、動(AC) 特性のみならず、動( AC)特性✛静( DC)特性一括テストも可能に しています。
MT300:MT200の機能をそのままに、よりハイパワー10 kV、10 kA迄のレンジでユーザー要求を実現しています。(本仕様以上のご要求はお問い合わせ下さい)
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パワー半導体 テスターファミリー
MT100:静(DC)特性パラメータをウエハ/チップから複雑なモジュール迄、広範囲な電圧電流領域でテスト機能をカバーします。
MT200:動(AC)特性パラメータテスト機能を追加し、動(AC) 特性のみならず、動( AC)特性✛静( DC)特性一括テストも可能に しています。
MT300:MT200の機能をそのままに、よりハイパワー10 kV、10 kA迄のレンジでユーザー要求を実現しています。(本仕様以上のご要求はお問い合わせ下さい)
全てのデバイスに対応可能と する特徴あるテスター本体
弊社テスター全てのユーザーI/Fを共通とし、市場要求に合った最新デバ イス性能に追随しアップグレード出来る様、又、必要最小限のスペア パーツとそのメンテナンス履歴が装置改善へ反映出来る様、標準化され たテスター本体構成となっている事から、ユニークなテストフィクス チュア(治具)とも相まって、パワー半導体テストの場に、高機能とフレキ シビリティとを提供し、トータル・オペレーションのコスト低減を実現 しています。
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全てのデバイスに対応可能と する特徴あるテスター本体
弊社テスター全てのユーザーI/Fを共通とし、市場要求に合った最新デバ イス性能に追随しアップグレード出来る様、又、必要最小限のスペア パーツとそのメンテナンス履歴が装置改善へ反映出来る様、標準化され たテスター本体構成となっている事から、ユニークなテストフィクス チュア(治具)とも相まって、パワー半導体テストの場に、高機能とフレキ シビリティとを提供し、トータル・オペレーションのコスト低減を実現 しています。
最適テスト性能 を提供
パワー・デバイステストに於いて、常に、最先端のユーザー要求を受 け 、絶え間ない性能改善の取り組みで、弊社テスター性能機能向上が格 段の進歩を遂げました。その一端が、LSI™テクノロジーに依る、Ls: 18nHテスト環境実現で、最大SWスピードを持つDUTの諸特性確認を波 形分解能12ビットで可能としています。
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最適テスト性能 を提供
パワー・デバイステストに於いて、常に、最先端のユーザー要求を受 け 、絶え間ない性能改善の取り組みで、弊社テスター性能機能向上が格 段の進歩を遂げました。その一端が、LSI™テクノロジーに依る、Ls: 18nHテスト環境実現で、最大SWスピードを持つDUTの諸特性確認を波 形分解能12ビットで可能としています。
最先端オシロに組み込まれた まれたソフトウエア
高性能信号処理能力を持つTeledyne社製 LeCroy HDO6000Aオシロス ープのおかげで動特性に必要な諸データを12bits 350MHzで取り込むと 同時に、IEC60747に全準拠した、弊社オリジナル・テストソフトウエア をも一体に組み込み迅速操作を可能としています。
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最先端オシロに組み込まれた まれたソフトウエア
高性能信号処理能力を持つTeledyne社製 LeCroy HDO6000Aオシロス ープのおかげで動特性に必要な諸データを12bits 350MHzで取り込むと 同時に、IEC60747に全準拠した、弊社オリジナル・テストソフトウエア をも一体に組み込み迅速操作を可能としています。
テスト項目毎にコード化不要 の既成テストプログラム機能
テスターを使用する上で、マトリクス・スイッチの操作を含む各種テス ト条件を設定する為のコード化は不要で、新規テストプログラム作成 は、テスト項目を選び、予め準備された規定フォームに必要事項を、デ バイスカタログに基づき、単に記入する事で進める事が可能です。 テスト項目は、テスト・ステップ順に、IEC60747標準に準拠した既成リ ストから選択する形で並べ、進める事で完成します。
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テスト項目毎にコード化不要 の既成テストプログラム機能
テスターを使用する上で、マトリクス・スイッチの操作を含む各種テス ト条件を設定する為のコード化は不要で、新規テストプログラム作成 は、テスト項目を選び、予め準備された規定フォームに必要事項を、デ バイスカタログに基づき、単に記入する事で進める事が可能です。 テスト項目は、テスト・ステップ順に、IEC60747標準に準拠した既成リ ストから選択する形で並べ、進める事で完成します。
Ls:20nH以下を達成
弊社が開発した特異技術 CREA LSI™ に依りプローブコンタクトを構 成する事で、極低Ls化したテスト・フィクスチュア(治具)を実現で き、不安定になりがちな高速デバイスに対し、安定したACテストを 可能にしています。
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20 nH以下 を達成
弊社が開発した特異技術 CREA LSI™ に依りプローブコンタクトを構 成する事で、極低Ls化したテスト・フィクスチュア(治具)を実現で き、不安定になりがちな高速デバイスに対し、安定したACテストを 可能にしています。
半自動ハンドラー内蔵テスタ テスターによる迅速テストプログラム作成
弊社には、量産ラインに使うものと同じコンタクトプローブ治具(テスト・フィクスチュア)が使える半自動マニアルハンドラー付きテスターを準備する事で、生産ラインを止める事なく、新規デバイスのラ イン投入の為の事前セットアップを可能とします。
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半自動ハンドラー内蔵テスタ テスターによる迅速テストプログラム作成
弊社には、量産ラインに使うものと同じコンタクトプローブ治具(テスト・フィクスチュア)が使える半自動マニアルハンドラー付きテスターを準備する事で、生産ラインを止める事なく、新規デバイスのラ イン投入の為の事前セットアップを可能とします。
試作に連携したフル量産ラ インを意図した全自動テス トシステム
試作時のテストフィクスチュア(治具)が使える、量産用標準化フルライン・テストシステムを準備しています。 弊社とパートナー各社との積極協業で、ハンドラー・プローバーを含む完全ターンキーシ ステムの標準的な提供を実現しています。 それによりラインを止める事なく、高性能システム組合せ、迅速立上げを、標準価格で実 施可とするメリットを各ユーザーに提供しています。
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試作に連携したフル量産ラ インを意図した全自動テス トシステム
試作時のテストフィクスチュア(治具)が使える、量産用標準化フルライン・テストシステムを準備しています。 弊社とパートナー各社との積極協業で、ハンドラー・プローバーを含む完全ターンキーシ ステムの標準的な提供を実現しています。 それによりラインを止める事なく、高性能システム組合せ、迅速立上げを、標準価格で実 施可とするメリットを各ユーザーに提供しています。