パワー半導体 テスターファミリー
MT100: 静(DC)特性パラメータをウエハ/チップから複雑なモジュール迄、広範囲な電圧電流領域でテスト機能をカバーします。
MT200:動(AC)特性パラメータテスト機能を追加し、動(AC) 特性のみならず、動( AC)特性✛静( DC)特性一括テストも可能に しています。
MT300:MT200の機能をそのままに、よりハイパワー10 kV、10 kA迄のレンジでユーザー要求を実現しています。(本仕様以上のご要求はお問い合わせ下さい)
パワー半導体 テスターファミリー
MT100:静(DC)特性パラメータをウエハ/チップから複雑なモジュール迄、広範囲な電圧電流領域でテスト機能をカバーします。
MT200:動(AC)特性パラメータテスト機能を追加し、動(AC) 特性のみならず、動( AC)特性✛静( DC)特性一括テストも可能に しています。
MT300:MT200の機能をそのままに、よりハイパワー10 kV、10 kA迄のレンジでユーザー要求を実現しています。(本仕様以上のご要求はお問い合わせ下さい)
全てのデバイスに対応可能と する特徴あるテスター本体
弊社テスター全てのユーザーI/Fを共通とし、市場要求に合った最新デバ イス性能に追随しアップグレード出来る様、又、必要最小限のスペア パーツとそのメンテナンス履歴が装置改善へ反映出来る様、標準化され たテスター本体構成となっている事から、ユニークなテストフィクス チュア(治具)とも相まって、パワー半導体テストの場に、高機能とフレキ シビリティとを提供し、トータル・オペレーションのコスト低減を実現 しています。
全てのデバイスに対応可能と する特徴あるテスター本体
弊社テスター全てのユーザーI/Fを共通とし、市場要求に合った最新デバ イス性能に追随しアップグレード出来る様、又、必要最小限のスペア パーツとそのメンテナンス履歴が装置改善へ反映出来る様、標準化され たテスター本体構成となっている事から、ユニークなテストフィクス チュア(治具)とも相まって、パワー半導体テストの場に、高機能とフレキ シビリティとを提供し、トータル・オペレーションのコスト低減を実現 しています。
最適テスト性能 を提供
パワー・デバイステストに於いて、常に、最先端のユーザー要求を受 け 、絶え間ない性能改善の取り組みで、弊社テスター性能機能向上が格 段の進歩を遂げました。その一端が、LSI™テクノロジーに依る、Ls: 18nHテスト環境実現で、最大SWスピードを持つDUTの諸特性確認を波 形分解能12ビットで可能としています。
最適テスト性能 を提供
パワー・デバイステストに於いて、常に、最先端のユーザー要求を受 け 、絶え間ない性能改善の取り組みで、弊社テスター性能機能向上が格 段の進歩を遂げました。その一端が、LSI™テクノロジーに依る、Ls: 18nHテスト環境実現で、最大SWスピードを持つDUTの諸特性確認を波 形分解能12ビットで可能としています。
最先端オシロに組み込まれた まれたソフトウエア
高性能信号処理能力を持つTeledyne社製 LeCroy HDO6000Aオシロス ープのおかげで動特性に必要な諸データを12bits 350MHzで取り込むと 同時に、IEC60747に全準拠した、弊社オリジナル・テストソフトウエア をも一体に組み込み迅速操作を可能としています。
最先端オシロに組み込まれた まれたソフトウエア
高性能信号処理能力を持つTeledyne社製 LeCroy HDO6000Aオシロス ープのおかげで動特性に必要な諸データを12bits 350MHzで取り込むと 同時に、IEC60747に全準拠した、弊社オリジナル・テストソフトウエア をも一体に組み込み迅速操作を可能としています。
テスト項目毎にコード化不要 の既成テストプログラム機能
テスターを使用する上で、マトリクス・スイッチの操作を含む各種テス ト条件を設定する為のコード化は不要で、新規テストプログラム作成 は、テスト項目を選び、予め準備された規定フォームに必要事項を、デ バイスカタログに基づき、単に記入する事で進める事が可能です。 テスト項目は、テスト・ステップ順に、IEC60747標準に準拠した既成リ ストから選択する形で並べ、進める事で完成します。
テスト項目毎にコード化不要 の既成テストプログラム機能
テスターを使用する上で、マトリクス・スイッチの操作を含む各種テス ト条件を設定する為のコード化は不要で、新規テストプログラム作成 は、テスト項目を選び、予め準備された規定フォームに必要事項を、デ バイスカタログに基づき、単に記入する事で進める事が可能です。 テスト項目は、テスト・ステップ順に、IEC60747標準に準拠した既成リ ストから選択する形で並べ、進める事で完成します。
Ls:20nH以下を達成
弊社が開発した特異技術 CREA LSI™ に依りプローブコンタクトを構 成する事で、極低Ls化したテスト・フィクスチュア(治具)を実現で き、不安定になりがちな高速デバイスに対し、安定したACテストを 可能にしています。
20 nH以下 を達成
弊社が開発した特異技術 CREA LSI™ に依りプローブコンタクトを構 成する事で、極低Ls化したテスト・フィクスチュア(治具)を実現で き、不安定になりがちな高速デバイスに対し、安定したACテストを 可能にしています。
半自動ハンドラー内蔵テスタ テスターによる迅速テストプログラム作成
弊社には、量産ラインに使うものと同じコンタクトプローブ治具(テスト・フィクスチュア)が使える半自動マニアルハンドラー付きテスターを準備する事で、生産ラインを止める事なく、新規デバイスのラ イン投入の為の事前セットアップを可能とします。
半自動ハンドラー内蔵テスタ テスターによる迅速テストプログラム作成
弊社には、量産ラインに使うものと同じコンタクトプローブ治具(テスト・フィクスチュア)が使える半自動マニアルハンドラー付きテスターを準備する事で、生産ラインを止める事なく、新規デバイスのラ イン投入の為の事前セットアップを可能とします。
試作に連携したフル量産ラ インを意図した全自動テス トシステム
試作時のテストフィクスチュア(治具)が使える、量産用標準化フルライン・テストシステムを準備しています。 弊社とパートナー各社との積極協業で、ハンドラー・プローバーを含む完全ターンキーシ ステムの標準的な提供を実現しています。 それによりラインを止める事なく、高性能システム組合せ、迅速立上げを、標準価格で実 施可とするメリットを各ユーザーに提供しています。
試作に連携したフル量産ラ インを意図した全自動テス トシステム
試作時のテストフィクスチュア(治具)が使える、量産用標準化フルライン・テストシステムを準備しています。 弊社とパートナー各社との積極協業で、ハンドラー・プローバーを含む完全ターンキーシ ステムの標準的な提供を実現しています。 それによりラインを止める事なく、高性能システム組合せ、迅速立上げを、標準価格で実 施可とするメリットを各ユーザーに提供しています。